一种数字后端设计DFT的方法分析

作     者：叶琳娜 高大伟 熊瑛 易丹 YE Linna;GAO Dawei;XIONG Ying;YI Dan

作者机构：电子科技大学成都学院四川611731 

出 版 物：《集成电路应用》 (Application of IC)

年 卷 期：2024年第41卷第3期

页      码：4-5页

摘      要：阐述可测试性设计(DFT)的特点。分析一种ASIC设计中DFT的方法,包括定义扫描链、定义测试信号、提取扫描链、写入测试协议,使设计人员可以优化最终芯片制造的功耗、面积和时序。

主 题 词：集成电路设计 数字后端 DFT ASIC设计 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.19339/j.issn.1674-2583.2024.03.002

馆 藏 号：203127486...