不同背景下超连续谱激光对成像系统的干扰

作     者：范瑜 程相正 邵铭 刘伟 Fan Yu;Cheng Xiangzheng;Shao Ming;Liu Wei

作者机构：63891部队光电对抗测试评估技术重点实验室河南洛阳471000 

基　　金：试验技术研究重点项目(2200110033) 

出 版 物：《激光与光电子学进展》 (Laser & Optoelectronics Progress)

年 卷 期：2024年第61卷第8期

页      码：152-157页

摘      要：超连续谱激光辐照可见光成像系统的干扰效应研究具有广泛的应用前景。针对超连续谱激光干扰效应,开展了不同辐亮度背景下超连续谱激光对可见光成像系统的干扰实验研究。采用白光光纤激光器产生超连续谱干扰源,搭建了超连续谱激光对可见光成像系统的干扰实验系统,得到不同辐亮度下探测器的干扰阈值数据,建立了探测器饱和像元数与干扰激光功率密度之间的数学关系模型,并对干扰阈值数据进行分析。结果表明,探测器饱和像元数与干扰激光功率密度近似呈线性对数关系,在低辐亮度背景下可见光成像系统更易受到干扰。实验结果对超连续谱激光干扰装备的设计、论证及作战使用具有一定的参考意义。

主 题 词：超连续谱激光 成像系统 干扰 不同辐亮度背景 饱和像元个数 

学科分类：11[军事学] 080904[080904] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 110503[110503] 0810[工学-土木类] 1105[1105] 1104[1104] 082601[082601] 081105[081105] 0826[工学-生物医学工程类] 081001[081001] 081002[081002] 0811[工学-水利类] 

核心收录：

D　O　I：10.3788/LOP230604

馆 藏 号：203127495...