基于通用测试平台的AD73360测试子卡设计

作     者：于吉刚 侯伟盟 谭加加 YU Jigang;HOU Weimeng;TAN Jiajia

作者机构：中国电子科技集团公司第58研究所无锡214035 

出 版 物：《集成电路与嵌入式系统》 (INTEGRATED CIRCUITS AND EMBEDDED SYSTEMS)

年 卷 期：2024年第24卷第5期

页      码：88-93页

摘      要：本文基于中国电子科技集团公司第58所现有的ZYNQ+FPGA的ADC通用测试平台对六通道模/数转换器件AD73360进行详细的动态指标测试,数据处理和分析在上位机LabVIEW中调用MATLAB实现。由于采集控制与处理的平台系统已经设计完成,本设计主要针对AD73360子卡的硬件设计、具体的动态测试方法和上位机指标测试进行详细的阐述,通过对比手册给出的典型动态指标,最终确定本课题设计的子卡性能可以满足AD73360的性能指标要求。

主 题 词：ADC LabVIEW AD73360 动态指标 ZYNQ 

学科分类：08[工学] 081101[081101] 0811[工学-水利类] 081102[081102] 

馆 藏 号：203127747...