基于ZYNQ MPSOC的以太网PHY芯片功能测试方法

作     者：李睿 万旺 焦美荣 张大宇 张松 王贺 梁培哲 LI Rui;WAN Wang;JIAO Meirong;ZHANG Dayu;ZHANG Song;WANG He;LIANG Peizhe

作者机构：中国空间技术研究院北京100094 

出 版 物：《微电子学与计算机》 (Microelectronics & Computer)

年 卷 期：2024年第41卷第5期

页      码：127-133页

摘      要：随着以太网技术和集成电路技术的发展,以太网物理层(Physical Layer,PHY)芯片的速率和性能都得到了极大提升,电路复杂度更是几何级增长,以至于常规的自动测试设备(Automatic Test Equipment,ATE)测试很难充分验证其功能,所以亟需开展相应测试方法研究。提出了一种高效的基于ZYNQ MPSOC的以太网PHY芯片功能测试方法。该方法以ZYNQ MPSOC为核心,设计了一种直达应用层面的系统级测试装置,从而减少了与物理层直接交互的行为,有效降低了测试装置及程序开发难度。经试验验证,提出的基于ZYNQ MPSOC的以太网PHY芯片功能测试方法能够用于以太网PHY芯片测试。

主 题 词：以太网 PHY芯片 ZYNQ MPSOC 系统级测试装置 PHY芯片测试 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.19304/J.ISSN1000-7180.2024.0177

馆 藏 号：203127755...