一种基于CCD的卷绕机对齐度测量补偿方法

作     者：罗小军 孙高磊 Luo Xiaojun;Sun Gaolei

作者机构：广东拓斯达科技股份有限公司广东东莞 

出 版 物：《科学技术创新》 (Scientific and Technological Innovation)

年 卷 期：2024年第9期

页      码：22-25页

摘      要：采用CCD实现电芯对齐度检测,设计了一种动态补偿的方法,解决了卷绕机电芯生产过程中因为电芯多层卷绕厚度变化,导致图像成像解析度变化测量结果产生偏差的问题。通过实际验证,结果表明该方法能够有效地提升CCD测量结果同三次元的相关性,将GRR提升到10%以内。

主 题 词：卷绕机 解析度补偿 CCD 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080501[080501] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1673-1328.2024.09.007

馆 藏 号：203127775...