一款28nm电路的同步开关输出噪声的仿真与设计

作     者：邹文英 王淑芬 高璐 李小强 陈柱江 ZOU Wen-ying;WANG Shu-fen;GAO Lu;LI Xiao-qiang;CHEN Zhu-jiang

作者机构：中国电子科技集团公司第五十八研究所 

出 版 物：《中国集成电路》 (China lntegrated Circuit)

年 卷 期：2024年第33卷第5期

页      码：40-45页

摘      要：同步开关输出噪声是影响芯片信号完整性的主要噪声之一,较大的噪声有可能导致数字系统中元件的错误翻转。本文首先简要介绍了同步开关输出噪声的产生及特点,然后通过电路模型仿真,得到了与噪声相关的因素。最后结合实际电路,根据仿真的结果得到了控制同步开关输出噪声的方案。

主 题 词：同步开关噪声 同步开关输出 输入输出器件 

学科分类：080903[080903] 080902[080902] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1681-5289.2024.05.007

馆 藏 号：203127833...