基于特征提取和SVM分类的LED芯片缺陷快速检测与实现

作     者：吴乾生 高健 张揽宇 郑卓鋆 WU Qian-sheng;GAO Jian;ZHANG Lan-yu;ZHENG Zhuo-yun

作者机构：省部共建精密电子制造技术与装备国家重点实验室广东工业大学广东广州510006 

基　　金：国家自然科学基金NSFC面上项目(52075106) 

出 版 物：《机械设计与制造》 (Machinery Design & Manufacture)

年 卷 期：2024年第400卷第6期

页      码：250-255页

摘      要：针对LED芯片工业化生产中人工目检缺陷检测效率低,速度慢,易疲劳,受主观影响等问题,这里研究设计了一套LED芯片缺陷的快速检测系统,提出了一种分角度多方向快速卷积、分区统计特征量、支持向量机分类的LED芯片缺陷识别算法,基于QT和Opencv开发了一套LED芯片缺陷快速检测与分类系统,搭建LED芯片检测系统的硬件平台,实现LED芯片实时在线缺陷识别和自动分拣。基于研发的LED芯片缺陷快速检测与分拣系统样机,对LED芯片进行了缺陷分拣的测试。

主 题 词：LED 特征量提取 PCA 支持向量机 多分类 

学科分类：1305[艺术学-设计学类] 12[管理学] 13[艺术学] 1201[管理学-管理科学与工程类] 08[工学] 0802[工学-机械学] 081101[081101] 0811[工学-水利类] 081102[081102] 080201[080201] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1001-3997.2024.06.049

馆 藏 号：203128224...