一种低开销的三节点翻转容忍锁存器设计

作     者：秦学伟 QIN Xuewei

作者机构：安徽理工大学计算机科学与工程学院安徽淮南232001 

出 版 物：《河南科技》 (Henan Science and Technology)

年 卷 期：2024年第51卷第8期

页      码：9-13页

摘      要：【目的】随着半导体技术的发展,集成电路特征尺寸不断缩小,导致其对软错误更加敏感,因此需要对集成电路存储单元进行加固。【方法】使用Hspice进行实验与仿真,基于PTM32nm CMOS工艺,提出了一种低开销的三节点翻转容忍锁存器结构。【结果】该锁存器包含2个单节点自恢复模块、1个二级错误拦截模块、3个传输门。每个自恢复模块由1个施密特触发器和1个钟控的施密特触发器组成,首尾相连形成环形结构,有效地实现了三节点翻转的容忍。【结论】仿真结果表明:与现有的其他功能相同的锁存器相比,所提出的锁存器具有完整的三节点容忍能力,并且将功耗、延迟、面积、功率延迟积分别降低了约37.58%、41.25%、27.77%、75.83%。

主 题 词：锁存器 软错误 三节点翻转 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.19968/j.cnki.hnkj.1003-5168.2024.08.002

馆 藏 号：203128291...