基于片上时钟控制器的电路全速测试设计与实现

作     者：谢雨蒙 姜赛男 徐超 王展锋 XIE Yumeng;JIANG Sainan;XU Chao;WANG Zhanfeng

作者机构：中国电子科技集团公司第五十八研究所江苏214000 

出 版 物：《集成电路应用》 (Application of IC)

年 卷 期：2024年第41卷第5期

页      码：1-3页

摘      要：阐述芯片在55nm CMOS工艺下,基于片上时钟控制器,对电路的数字逻辑部分、嵌入式存储器部分分别进行全速测试的可测性设计。通过对芯片全速测试的可测性设计和验证,测试时间得到缩短。

主 题 词：集成电路 片上时钟控制器 全速测试 测试覆盖率 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.19339/j.issn.1674-2583.2024.05.001

馆 藏 号：203128311...