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基于FPGA的智能多路绝缘测试平台国产化设计

基于FPGA的智能多路绝缘测试平台国产化设计

作     者:赵国文 姚玉林 张会新 ZHAO Guowen;YAO Yulin;ZHANG Huixin

作者机构:中北大学微纳器件与系统教育部重点实验室 91515部队 

出 版 物:《仪表技术与传感器》 (Instrument Technique and Sensor)

年 卷 期:2024年第5期

页      码:32-37页

摘      要:针对当下工业生产领域愈来愈繁复的电缆网与系统阻值的测试需求以及国内绝缘测试技术发展不够充分的现状,基于型号为HWD2V1000国产FPGA,提出了智能多路绝缘测试平台的国产化设计。绝缘测试平台具有静态、导通、绝缘3种测试模式,分别采用开尔文测试法和二线法,该绝缘测试平台全自动化、智能化,测试效率相较传统测试方法显著提升;能够对可拓展的多通道(>200点)中的任意测点设置3种阻值测试模式,测试阻值范围能覆盖至0.01~100 MΩ,测试误差在10%以内;全国产化设计,不依赖国外器件或模块,技术完全自主可控。

主 题 词:FPGA 绝缘测试仪 电缆网测试 国产化 开尔文测试法 

学科分类:08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 080402[080402] 

D O I:10.3969/j.issn.1002-1841.2024.05.006

馆 藏 号:203128334...

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