平面磁性元件高频绕组损耗原理及其测量

作     者：吴雨杰 郑寅 王世山 沈湛 WU Yujie;ZHENG Yin;WANG Shishan;SHEN Zhan

作者机构：南京航空航天大学自动化学院南京211106 东南大学电气工程学院南京210096 

基　　金：南京航空航天大学教改项目 

出 版 物：《磁性元件与电源》 (Components and Power)

年 卷 期：2024年第6期

页      码：155-160页

摘      要：随着开关电源频率的不断提升,磁性元件中导体的涡流损耗成为设计时的重点关注部分。本文以平面型电感器为研究对象,将导体的涡流损耗分解为集肤效应损耗和邻近效应损耗,利用数值计算的方法探索集肤效应损耗的影响因素,并借助半近似解析式获取电感器中的邻近效应损耗。通过对平面型电感器线圈的集肤效应损耗、邻近效应损耗以及总损耗的分析,为工程上分析损耗所占百分比提供了一条可行的途径。

主 题 词：涡流损耗 集肤效应 邻近效应 平面型电感器 

学科分类：080801[080801] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 

馆 藏 号：203128457...