基于LabVIEW的过程仪表校验仪全自动校准控制系统开发与实现

作     者：肖天雷 王舒卉 XIAO Tianlei;WANG Shuhui

作者机构：上海市计量测试技术研究院上海201203 

基　　金：上海市市场监督管理局项目(2023第54号) 

出 版 物：《智能物联技术》 (Technology of Io T& AI)

年 卷 期：2024年第56卷第2期

页      码：61-64页

摘      要：基于Labview平台开发一套针对可程控过程仪表校验仪全自动校准的控制系统。简述全自动校准系统的构成,详细介绍控制系统的设计思路、软件结构。该系统能够完成多种型号可程控过程仪表校验仪的全自动校准。实验证明控制系统的状态机结构在实际应用中的可行性。自动校准能够满足仪表的技术指标和目前的校准能力,且效率比传统人工方式提高30%以上。

主 题 词：计量学 过程仪表校验仪 自动校准 Labview 

学科分类：08[工学] 0835[0835] 081202[081202] 0812[工学-测绘类] 

馆 藏 号：203128467...