基于RS和BCH码的SRAM-PUF密钥提取方法及性能分析

作     者：周昱 于宗光 ZHOU Yu;YU Zongguang

作者机构：中国电子科技集团公司第五十八研究所江苏无锡214072 

出 版 物：《计算机工程》 (Computer Engineering)

年 卷 期：2024年第50卷第7期

页      码：187-193页

摘      要：物理不可克隆函数(PUF)是芯片制造过程中随机偏差形成的唯一和不可复制的物理指纹,使用这个特征可以鉴别各个芯片,然而PUF芯片因环境变化会影响输出,导致在认证应用时可能失败。介绍了模糊提取器的密钥提取方法,通过在静态随机存取存储器(SRAM)-PUF芯片中加入里德-所罗门(RS)硬解码,在认证系统中加入BCH软解码模块,纠正PUF在一定范围内变化来确保通过认证,并对SRAM-PUF电路在三温下进行实验分析。实验结果表明,SRAM-PUF电路的PUF点分布有较好的均衡性,在常温时可靠性接近100%,在低温条件下可靠性范围为98.84%~100%,在高温条件下,可靠性范围为97.77%~99%,当RS码和BCH码设计的纠错能力大于PUF可靠性时能够通过认证。

主 题 词：物理不可克隆函数 静态随机存取存储器 模糊提取器 里德-所罗门码 BCH码 

学科分类：08[工学] 0839[0839] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.19678/j.issn.1000-3428.0068443

馆 藏 号：203128563...