不同构型超表面偏振检测

作     者：叶超 周钰聪 占春连 高涵 Ye Chao;Zhou Yucong;Zhan Chunlian;Gao Han

作者机构：中国计量大学光学与电子科技学院浙江杭州310018 

出 版 物：《光学学报》 (Acta Optica Sinica)

年 卷 期：2024年第44卷第14期

页      码：258-266页

摘      要：为了探究不同偏振构型超表面对偏振检测效果的影响,利用梯度下降法和退火优化智能算法设计制备了工作波长为1550 nm,偏振构型分别为平面、普通四面体、正四面体的3种超表面衍射光栅,实验对比了它们对完全偏振光的检测能力。结果表明,正四面体光栅的检测误差最小,具有最佳的性能:恢复得到线偏振角度的均方根误差为0.79°,小于1°;对于椭圆偏振光,方位角和椭偏角的均方根误差分别为2.93°、3.76°。另外,所设计的超表面衍射光栅在1540 nm和1560 nm同样可以实现偏振检测,具有一定的宽带性能。所提出的偏振检测超表面按需逆向设计方法和对不同偏振构型超表面偏振检测性能的研究为未来设计具有灵活、高精度检偏性能的超表面提供了技术依据。

主 题 词：表面光学 超表面 衍射光栅 偏振检测 偏振构型 正四面体光栅 

学科分类：070207[070207] 07[理学] 08[工学] 0803[工学-仪器类] 0702[理学-物理学类] 

核心收录：

D　O　I：10.3788/A0S240525

馆 藏 号：203128781...