基于射频侧信道的密码芯片安全测评方法

作     者：谢豪 田曦 廖威 朱雄杰 XIE Hao;TIAN Xi;LIAO Wei;ZHU Xiong-Jie

作者机构：国防科技大学长沙410073 

基　　金：国家重点研发计划(2019QY0502) 

出 版 物：《密码学报（中英文）》 (Journal of Cryptologic Research)

年 卷 期：2024年第11卷第3期

页      码：706-718页

摘      要：侧信道攻击是针对密码芯片的主要威胁之一,对密码芯片进行抗侧信道攻击能力的评估已成为密码测评的重要内容.CC标准是当前认可度最高的密码评估认证标准之一,但仅对传统的侧信道测评方法进行规范,难以应对未来可能出现的侧信道攻击.射频侧信道是一种新型的泄露途径,CC标准未将该侧信道纳入测评的执行内容.基于以上问题,本文基于射频侧信道的泄露原理设计并搭建了原型测评平台,该平台可一体化实现射频侧信道信号的采集、预处理和分析工作.在测评实验阶段,以一款执行AES加密通信的蓝牙SOC作为待测芯片,采用测试向量泄露评估技术(test vector leakage assessment,TVLA)对其S盒运算过程进行泄露评估,单字节泄露t值最大可达43.97,最远的泄露距离为10米左右;其次采用Profile攻击方法对其实施抗攻击测试,利用25000条泄露曲线在攻击距离为5米处成功恢复了AES算法的全部密钥,测试结果进一步验证了该测评平台的科学性和可行性.本文的工作可为密码测评标准的完善提供新依据,为安全测评人员提供新的测评思路.

主 题 词：密码安全测评 射频侧信道 泄露评估 侧信道攻击 

学科分类：08[工学] 0839[0839] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

D　O　I：10.13868/j.cnki.jcr.000703

馆 藏 号：203128802...