装备测试性设计与诊断策略优化技术研究

作     者：于功敬 厚泽 王振华 Yu Gongjing;Hou Ze;Wang Zhenhua

作者机构：航天科工集团测控中心北京100041 

出 版 物：《电子测量技术》 (Electronic Measurement Technology)

年 卷 期：2012年第35卷第7期

页      码：8-11页

摘      要：随着装备功能和结构复杂程度的增加,带来测试诊断困难和测试成本增加等问题。为解决这些问题,从测试诊断策略优化、测试项目优化和测试资源调度3个方面进行了分析研究,尤其对测试诊断策略优化这一核心技术进行了详细分析,对目前常用的算法和设计方法进行了分析比较,最后对测试诊断策略优化技术进行了展望。

主 题 词：测试性设计 测试策略 测试优化 

学科分类：12[管理学] 1201[管理学-管理科学与工程类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1002-7300.2012.07.003

馆 藏 号：203128802...