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测试与测量

测试与测量

出 版 物:《电子设计技术 EDN CHINA》 (EDN CHINA)

年 卷 期:2005年第12卷第6期

页      码:120-120页

摘      要:将信号生成速度提高300倍的通信测试设备;针对PCI—Express测试和验证专用示波器软件;整合CV和IV测量功能的半导体器件分析仪;示波器的高性能抖动分析工具;100GHz带宽的示波器。

主 题 词:Express 抖动分析工具 半导体器件 示波器 测试设备 生成速度 测量功能 PCI 分析仪 软件 带宽 

学科分类:08[工学] 080402[080402] 0804[工学-材料学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

馆 藏 号:203130048...

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