可靠性指标增长验证统计方案设计方法

作     者：魏川 康锐 王文雨 WEI Chuan;KANG Rui;WANG Wen-yu

作者机构：北京航空航天大学可靠性与系统工程学院北京100191 

出 版 物：《电子产品可靠性与环境试验》 (Electronic Product Reliability and Environmental Testing)

年 卷 期：2013年第31卷第6期

页      码：28-31页

摘      要：在验收试验之前,在产品的研制过程中往往已有不少对产品的其他信息,比如产品各个阶段的试验信息;在产品的研制过程中,可靠性通常是增长的,因此这类数据符合可靠性增长指标要求。在设计可靠性指标验证方案时,充分地考虑了可靠性增长的信息,基于单调约束模型和Bogey试验设计方法,通过蒙特卡洛算法,给出一种可靠性增长验证统计方案的设计方法。

主 题 词：单调约束模型 可靠性验证 Bogey试验 

学科分类：1305[艺术学-设计学类] 13[艺术学] 07[理学] 070104[070104] 0701[理学-数学类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1672-5468.2013.06.007

馆 藏 号：203130393...