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在设计中使用边界扫描

在设计中使用边界扫描

作     者:Jon Titus 

作者机构:ECN 

出 版 物:《电子产品世界》 (Electronic Engineering & Product World)

年 卷 期:2004年第11卷第11B期

页      码:70-73页

摘      要:边界扫描在许多情况下不可或缺,设计人员可以应用边界扫描来测试原型以及确定新设计的特性,发现问题,改进设计,加快产品投放市场时间,提供更可靠、耐用的产品。

主 题 词:边界扫描技术 内建自测试 PCB 印刷电路板 模拟器件 电子工程 JTAG 闪存器 串行 编程 

学科分类:080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

馆 藏 号:203131411...

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