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转基因玉米DNA检测芯片的研究

转基因玉米DNA检测芯片的研究

作     者:刘烜 郑文杰 唐丹舟 赵卫东 贺艳 刘辉 LIU Xuan;ZHENG Wen-jie;TANG Dan-zhou;ZHAO Wei-dong;HE Yan;LIU Hui

作者机构:天津出入境检验检疫局天津300201 

出 版 物:《食品研究与开发》 (Food Research and Development)

年 卷 期:2009年第30卷第6期

页      码:149-153页

摘      要:根据转基因玉米中所转入的外源基因,选择CaMV35S启动子、NOS终止子、PAT基因和目的基因IVS2/PAT、CDPK/CryIA(b)、Maize genome/CaMV35S、PAT/CaMV35S!、Cry9C/CaMV35S!以及内源IVR基因设计特异性引物,采用多重PCR法对待测样品进行扩增,通过缺口平移法合成DIG-dUTP标记杂交探针,并制备基因芯片。在对PCR反应和扩增产物与芯片杂交条件进行优化的同时,比较了芯片检测的特异性和重复性,并对检测的灵敏度进行测试。结果表明,该方法具有较好的特异性和重复性,检测灵敏度可达0.1%。

主 题 词:转基因玉米 DNA芯片 缺口平移 多重PCR 

学科分类:09[农学] 0901[农学-植物生产类] 

D O I:10.3969/j.issn.1005-6521.2009.06.045

馆 藏 号:203131729...

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