基于试验设计的RFID应用组合测试优化研究

作     者：刘禹 朱智源 关强 杨一平 

作者机构：中国科学院自动化研究所RFID研究中心北京100190 

基　　金：国家高技术研究发展计划(863计划)(2006AA04A103)资助 

出 版 物：《自动化学报》 (Acta Automatica Sinica)

年 卷 期：2010年第36卷第12期

页      码：1674-1680页

摘      要：作为物联网的核心技术之一,射频识别(Radio frequency identification,RFID)已广泛应用到多个行业中.而复杂的应用环境和多样化的产品设备也给RFID应用部署带来了新的挑战.为了解决RFID应用测试中的组合爆炸问题,本文提出一种RFID应用组合测试优化方法,可以在多因子多水平的条件下通过正交设计在所有试验方案中均匀地挑选出最具有代表性的少数试验方案来简化测试,并利用方差分析法获得各因子对测试结果影响的主次因素和变化规律,协助使用者迅速建立对输入输出关系的认识.以RFID标签应用为例进行的组合测试数据分析表明,利用试验设计方法对RFID应用组合测试的设计方案进行优化,可以为RFID系统部署提供有益的参考依据.

主 题 词：射频识别 组合测试 试验设计 多因子模型 

学科分类：1305[艺术学-设计学类] 13[艺术学] 081104[081104] 08[工学] 0804[工学-材料学] 081101[081101] 0811[工学-水利类] 

核心收录：

D　O　I：10.3724/sp.j.1004.2010.01674

馆 藏 号：203131789...