楼宇自控系统可靠性设计技术

作     者：陈永鹏 

作者机构：深圳市物业管理有限公司广东深圳518001 

出 版 物：《电子产品可靠性与环境试验》 (Electronic Product Reliability and Environmental Testing)

年 卷 期：2002年第20卷第4期

页      码：31-34页

摘      要：介绍了影响楼宇自控系统（BAS）可靠性的主要因素以及在系统设计的全过程中可采用的各种可靠性设计技术。

主 题 词：楼宇自控系统 干扰 可靠性 元器件 失效 容错技术 电磁兼容性 

学科分类：08[工学] 081101[081101] 0811[工学-水利类] 081102[081102] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1672-5468.2002.04.009

馆 藏 号：203132456...