射频辐射对电子产品的影响分析及对策

作     者：朱文立 ZHU Wen-li

作者机构：信息产业部电子第五研究所广东广州510610 

出 版 物：《电子产品可靠性与环境试验》 (Electronic Product Reliability and Environmental Testing)

年 卷 期：2008年第26卷第1期

页      码：1-7页

摘      要：讨论了通过空间辐射传递的电磁骚扰形成机理、测量方法,重点分析了射频连续波辐射对电子产品干扰的主要特点,并有针对性地提出了相应的解决方法。

主 题 词：电子产品 电磁兼容性 辐射抗扰度 设计 对策 

学科分类：080901[080901] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1672-5468.2008.01.001

馆 藏 号：203132464...