数字集成电路的可测性设计及其应用

作     者：金娜 姚秀华 Jin Na;Yao Xiuhua(Northeast Microelectronics Institute, Ministry of Electronics Industry,Shenyang 110032)

作者机构：电子工业部东北微电子研究所沈阳110032 

出 版 物：《微处理机》 (Microprocessors)

年 卷 期：1998年第19卷第2期

页      码：4-6页

摘      要：首先论述了可测性设计的概念，分析了时序电路测试生成面临的困境。然后介绍了可测性设计的专门方法，并举例说明了它在实际中的应用。

主 题 词：可测性设计 数字集成电路 CAD 集成电路 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

馆 藏 号：203133270...