高纯六氟化钨中微量杂质的气相色谱分析

作     者：付梦月 张志勇 侯玲玲 黄晓磊 Fu Mengyue;Zhang Zhiyong;Hou Lingling;Huang Xiaolei

作者机构：黎明化工研究设计院有限责任公司河南洛阳471000 

出 版 物：《化学推进剂与高分子材料》 (Chemical Propellants & Polymeric Materials)

年 卷 期：2015年第13卷第6期

页      码：91-93页

摘      要：介绍了一种利用脉冲放电氦离子化检测器(PDHID)分析六氟化钨(WF6)中气相杂质的方法。该法利用阀切割技术对WF6主组分进行反吹,避免其进入分析柱及检测器,可准确分析出其中杂质的含量。

主 题 词：六氟化钨 脉冲放电氦离子化检测器 气相色谱 反吹 

学科分类：081702[081702] 081704[081704] 07[理学] 08[工学] 0817[工学-轻工类] 070302[070302] 0703[理学-化学类] 

D　O　I：10.16572/j.issn1672-2191.201506019

馆 藏 号：203135580...