开放式电路板测试系统的开发模式

作     者：魏保华 杨锁昌 郑思龙 孟晨 

作者机构：军械工程学院导弹工程系河北石家庄050003 

出 版 物：《兵工自动化》 (Ordnance Industry Automation)

年 卷 期：2004年第23卷第5期

页      码：76-77页

摘      要：针对大型复杂电子装备电路板测试系统的开发问题,提出了一种开放式开发模式。采用此开发模式,首先构建开放式测试系统,并通过扩充测试需求库和测试流程库、设计和配置接口适配电路、编制测试和故障诊断子程序等开放式开发,扩展系统对新UUT的测试功能。

主 题 词：开放模式 电路板 测试系统 可扩展性 

学科分类：08[工学] 081101[081101] 0811[工学-水利类] 081102[081102] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1006-1576.2004.05.034

馆 藏 号：203136174...