大规模集成电路动态老化测试台图形发生系统设计

作     者：王新中 冉立新 卜建明 蔡晓恺 曹骥 

作者机构：浙江大学信电系 杭州可靠性设备厂 

出 版 物：《微电子测试》 (Microelectronic Test)

年 卷 期：1995年第9卷第2期

页      码：33-36页

摘      要：本文论述了大规模集成电路动态老化测试台COWWS—12000图形发生系统设计。系统采用了微机集中控制各路独立编程方式,具有结构简单、通用性强等特点。

主 题 词：LSI 集成电路 动态老化 测试台 图形发生系统 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

馆 藏 号：203136213...