机电设备BIT中传感器系统的不确定性静态分析

作     者：杨光 樊树江 邱静 吴峻 温熙森 

作者机构：国防科技大学三院机电工程研究所长沙410073 国防科技大学磁悬浮技术研究中心长沙410073 

出 版 物：《传感技术学报》 (Chinese Journal of Sensors and Actuators)

年 卷 期：2004年第17卷第1期

页      码：93-97页

摘      要：机电产品的BIT(Built-inTest)设计以及状态监测和诊断过程在很大程度上依赖于传感层系统的可靠性 ,通过传感层系统的不确定性分析可对该可靠性进行定量描述。在实际应用过程中 ,传感层系统的可靠性与测试过程中的各个属性相关 ,而各个属性及其变化决定了测试输出的变化。提出基于传感器测试输出变化进行传感层系统的不确定性静态分析 ,计算结果描述传感器系统特性和特定测试环境对测试输出的不确定性的固有影响 ,提供改善系统的依据。

主 题 词：BIT 传感器 不确定性 特征属性 静态分析 

学科分类：0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 080202[080202] 08[工学] 0802[工学-机械学] 0811[工学-水利类] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1004-1699.2004.01.024

馆 藏 号：203136744...