基于STM32H7的ADC静态参数测量系统设计

作     者：丁光洲 高宁 徐晴昊 徐忆 李辉 DING Guangzhou;GAO Ning;XU Qinghao;XU Yi;LI Hui

作者机构：中国电子科技集团公司第五十八研究所江苏无锡214035 

出 版 物：《电子与封装》 (Electronics & Packaging)

年 卷 期：2024年第24卷第8期

页      码：21-24页

摘      要：国内的数字电源已经成为电源类芯片中不可或缺的产品,其内部反馈控制回路中的模数转换器(ADC)芯片精度直接影响整个电源输出的精度和稳定性。ADC静态参数——积分非线性(INL)与微分非线性(DNL)——是评价ADC精度的重要指标,目前国内针对数字电源中ADC的静态参数测试的设备操作复杂、成本高,缺乏相应的灵活性,因此设计一种低成本、易操作的静态参数测试系统尤为重要。设计了一种基于STM32H7的ADC静态参数测试系统,通过试验验证了测试系统的准确性和可行性。

主 题 词：ADC 测试系统 数字电源 静态参数 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.16257/j.cnki.1681-1070.2024.0086

馆 藏 号：203137833...