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基于CCD技术的非接触尺寸测量与展望

基于CCD技术的非接触尺寸测量与展望

作     者:徐景熙 

作者机构:天津大学精密仪器与光电子学院天津300072 

出 版 物:《数字技术与应用》 (Digital Technology & Application)

年 卷 期:2009年第27卷第10期

页      码:103-104页

摘      要:CCD因为其高灵敏性,非接触性和高精度性而在近代科学研究,工业生产,空间技术中得到广泛青睐。本文在对图像传感器CCD基本原理,器件的阐述基础上,我们介绍了CCD在一些非接触尺寸测量领域的设计与应用。最后,我们对CCD的发展趋势进行了展望。

主 题 词:CCD技术 非接触尺寸测量 数据采集 展望 

学科分类:08[工学] 081601[081601] 0816[工学-纺织类] 

馆 藏 号:203137900...

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