基于单片机的Flash存储器坏块自动检测

作     者：王新舜 张存善 韩力英 杨振华 WANG Xin-shun;ZHANG Cun-shan;HAN Li-ying;YANG Zhen-hua

作者机构：河北工业大学信息工程学院天津300130 

出 版 物：《电子设计工程》 (Electronic Design Engineering)

年 卷 期：2010年第18卷第3期

页      码：124-125,128页

摘      要：在深入了解Flash存储器的基础上,采用单片机自动检测存储器无效块。主要通过读取每一块的第1、第2页内容,判断该块的好坏,并给出具体的实现过程,以及部分关键的电路原理图和C语言程序代码。该设计最终实现单片机自动检测Flash坏块的功能,并通过读取ID号检测Flash的性能,同时该设计能够存储和读取1 GB数据。

主 题 词：NAND Flash ID号 AT89C51单片机 数码管 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080501[080501] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1674-6236.2010.03.044

馆 藏 号：203137914...