典型机箱的电磁屏蔽效能测试及电磁泄漏分析

作     者：钟文彬 方伟 Zhong Wen-bin;Fang Wei

作者机构：中国西南电子技术研究所四川成都610036 

基　　金：国防基础科研项目(B1120060958) 

出 版 物：《电子质量》 (Electronics Quality)

年 卷 期：2010年第9期

页      码：67-69页

摘      要：测试了机柜中常用的典型机箱的电磁屏蔽效能,得出了该种机箱在频率段30MHz～1GHz时水平极化和垂直极化方式下、有散热孔和无散热孔时的屏蔽效能值,综合分析了影响机箱电磁泄漏的主要因素,为机箱的设计及选用提供了依据。

主 题 词：机箱 屏蔽效能 电磁泄漏 

学科分类：0810[工学-土木类] 08[工学] 081001[081001] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1003-0107.2010.09.023

馆 藏 号：203137935...