基于非均匀采样的近场散射测量技术研究

作     者：司炜康 王维龙 SI Weikang;WANG Weilong

作者机构：中国计量科学研究院北京100029 

基　　金：国家重点研发计划(2022YFF0604804) 

出 版 物：《计量科学与技术》 (Metrology Science and Technology)

年 卷 期：2024年第68卷第8期

页      码：71-77,17页

摘      要：传统频率步进(Stepped frequency,SF)测量体制通过一组等间隔的离散点频信号合成大测量带宽。由于采样定理的限制,固定频率间隔数据所对应的时域信号将会呈周期出现,此时场地内的背景、多径干扰都有可能混叠至目标区域内,进而对成像和散射测量造成恶劣影响。围绕频率步进体制快速测量方法进行了探索,提出了一种基于非均匀采样的近场散射测量技术。分析了距离混叠效应对散射测量的影响,根据实际应用需求设计了采样函数的优化原则,通过泊松和公式与驻定相位原理(Principle of stationary phase,POSP)对信号包络进行赋形。针对传统非均匀采样重构方法所造成的散射图像退化问题,提出了一种与非均匀采样策略相适配的加权方法,在有效抑制混叠干扰的同时实现了高分辨率成像,并提升了近远场变换(Near Field to Far Field,NF-FF)的精度。

主 题 词：计量学 距离混叠 散射测量 非均匀采样 近场成像 近远场变换 

学科分类：08[工学] 080402[080402] 0804[工学-材料学] 

D　O　I：10.12338/j.issn.2096-9015.2024.0066

馆 藏 号：203138903...