CMOS电路I_(DDQ)测试电路设计

作     者：江耀曦 邵建龙 杨晓明 何春 JIANG Yao-xi;SHAO Jian-long;YANG Xiao-ming;HE Chun

作者机构：昆明理工大学信息工程与自动化学院云南昆明650031 

基　　金：云南省教育科学规划课题(GG09017) 昆明理工大学教学质量与教学改革工程重点项目(10968047) 

出 版 物：《现代电子技术》 (Modern Electronics Technique)

年 卷 期：2011年第34卷第16期

页      码：131-132,136页

摘      要：针对CMOS集成电路的故障检测,提出了一种简单的IDDQ静态电流测试方法,并对测试电路进行了设计。所设计的IDDQ电流测试电路对CMOS被测电路进行检测,通过观察测试电路输出的高低电平可知被测电路是否存在物理缺陷。测试电路的核心是电流差分放大电路,其输出一个与被测电路IDDQ电流成正比的输出。测试电路串联在被测电路与地之间,以检测异常的IDDQ电流。测试电路仅用了7个管子和1个反相器,占用面积小,用PSpice进行了晶体管级模拟,实验结果表明了测试电路的有效性。

主 题 词：IDDQ测试 测试方法 电流检测 CMOS电路 

学科分类：080902[080902] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 081101[081101] 0811[工学-水利类] 081102[081102] 

D　O　I：10.16652/j.issn.1004-373x.2011.16.023

馆 藏 号：203139508...