微波组件生产中多余物的来源与预防措施

作     者：杜银波 凌学民 Du Yinbo;Ling Xuemin

作者机构：中国电子科技集团公司第十三研究所石家庄050051 

出 版 物：《半导体技术》 (Semiconductor Technology)

年 卷 期：2011年第36卷第3期

页      码：247-251页

摘      要：对生产、使用中出现的多起因多余物导致的质量问题的原因进行了分析,探讨了如何控制多余物和提高产品的可靠性。原材料、生产环境、工艺控制、检验手段和人员水平是控制多余物产生的主要因素。在实际生产中通过加强原材料的检验和筛选,改进生产环境条件和完善规章制度,优化产品的工艺设计,合理进行工序布局,提高操作和检验人员技术水平以及增加检验手段等措施,有效地剔除了产品中的多余物,减少了多余物带来的质量问题,保证了产品在使用中的高质量和高可靠。

主 题 词：多余物 机械加工 可靠性 颗粒碰撞噪声检测 摇检 

学科分类：080902[080902] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1003-353x.2011.03.016

馆 藏 号：203139923...