硅像素探测器X射线探测效率实验研究

作     者：刘军 杨晨飞 李胜泰 袁强 金恺 孙向明 LIU Jun;YANG Chenfei;LI Shengtai;YUAN Qiang;JIN Kai;SUN Xiangming

作者机构：华中师范大学夸克与轻子物理教育部重点实验室武汉430079 埃科光电科技股份有限公司合肥230000 

基　　金：国家重点研发计划(2020YFE0202002 2022YFA1602103) 

出 版 物：《实验科学与技术》 (Experiment Science and Technology)

年 卷 期：2024年第22卷第4期

页      码：13-18,40页

摘      要：X射线探测器经历了气体探测器和闪烁体探测器时代,进入了半导体探测器时代。作为一种新型的半导体探测器,硅像素探测器具有分辨率好、探测效率高、时间响应快、功耗低等特点。为了研究硅像素探测器X射线探测效率,设计了一套X射线探测系统,并进行了实验研究。实验分别测试了4.51、5.41、6.40、8.05 keV共4种不同能量的X射线的探测效率。后期进行了误差分析和数据处理,得到4种不同能量X射线正面入射时探测效率分别为53.00%、51.56%、40.65%和29.91%。该实验研究为寻找高探测效率的X射线探测器提供了一种新的思路。

主 题 词：X射线 硅像素探测器 探测效率 

学科分类：082704[082704] 08[工学] 0827[工学-食品科学与工程类] 

D　O　I：10.12179/1672-4550.20230498

馆 藏 号：203140208...