变包含角平面光栅单色器的性能检测

作     者：马磊 卢启鹏 彭忠琦 

作者机构：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室吉林长春130033 中国科学院研究生院北京100039 

基　　金：国家重大科学工程项目上海光源工程资助项目(SS-06) 

出 版 物：《光电子．激光》 (Journal of Optoelectronics·Laser)

年 卷 期：2011年第22卷第4期

页      码：589-592页

摘      要：针对高分辨变包含角平面光栅单色器(VAPGM)工作在超高真空环境下需具有极高的精度,本文基于自准直法,研究了VAPGM波长扫描机构转角精度、光斑水平漂移重复精度以及光栅切换机构重复精度的检测方法。利用该方法完成了VAPGM的离线检测,其中,波长扫描机构平面镜(PM)和平面光栅(PG)的转角精度检测结果分别为0.19″、0.22″,满足设计指标0.43″。并且,光斑水平漂移重复精度以及光栅切换机构重复精度的检测结果也均达到了理论设计指标,表明了检测方法的有效性。

主 题 词：同步辐射 变包含角平面光栅单色器(VAPGM) 转角精度 光斑水平漂移 光栅切换 

学科分类：08[工学] 0803[工学-仪器类] 

核心收录：

D　O　I：10.16136/j.joel.2011.04.020

馆 藏 号：203141025...