模拟及混合信号芯片的可测性设计

作     者：钟锐 魏同立 

作者机构：东南大学微电子中心南京210096 

出 版 物：《东南大学学报（自然科学版）》 (Journal of Southeast University：Natural Science Edition)

年 卷 期：2003年第33卷第3期

页      码：261-265页

摘      要：对现有模拟及混合信号芯片可测性设计方法从测试内容、测试信号传输路径、测试信号产生及检测方式等不同角度进行了分类和分析比较 .研究指出 ,在测试内容方面 ,基于结构的方法由于可得到较高的故障覆盖率并容易对其进行量化计算 ,因此被认为是今后发展的主要方向 ;在测试信号传输路径方面 ,基于总线的方法具有较易实现标准化的优点 ;而在测试信号产生及检测方面 ,内建自测试可大大降低测试所需代价 ,因此有较大的研究应用前景 .

主 题 词：模拟及混合信号 可测性设计 基于结构 基于性能 重构 内建自测试 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

核心收录：

D　O　I：10.3321/j.issn:1001-0505.2003.03.004

馆 藏 号：203141297...