拓扑图格独立分量分析和谱聚类支持的纹理探测

作     者：向世明 赵国英 崔丽 陈睿 李华 Xiang Shiminy;Zhao Guoying;Cui Li;Chen Rui;Li Hua

作者机构：中国科学院计算技术研究所智能信息处理重点实验室 

基　　金：国家"八六三"高技术研究发展划项目 ( 2 0 0 1AA2 3 10 3 1) 国家"九七三"重点基础研究发展规划项目(G19980 3 0 60 8) 国家科技攻关计划课题奥运科技专项( 2 0 0 1BA90 4B0 8) 中国科学院计算技术研究所青年创新基金( 2 0 0 2 6180 4) 

出 版 物：《计算机辅助设计与图形学学报》 (Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics)

年 卷 期：2005年第17卷第5期

页      码：935-940页

摘      要：提出的纹理探测方法首先采用拓扑图格独立分量分析(TICA)分别对每个观测纹理进行学习,获得分离基分离基的作用相当于滤波器,并通过最大响应准则得到选择从不同纹理选择的滤波器构成一个滤波器集;为了计算探测点的纹理特征,测试图像被分解为滤波器通道最后,探测点被视为谱图的顶点,根据谱聚类(SC)对谱图的切分结果,递归地分离出探测点实验结果表明。

主 题 词：纹理探测 拓扑图格独立分量分析 谱聚类 分离基 最大响应准则 滤波器通道 

学科分类：1305[艺术学-设计学类] 13[艺术学] 08[工学] 081104[081104] 0804[工学-材料学] 0835[0835] 081101[081101] 0811[工学-水利类] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

D　O　I：10.3321/j.issn:1003-9775.2005.05.009

馆 藏 号：203141739...