基于LabVIEW的集成电路测试分析仪

作     者：王帅 WANG Shuai

作者机构：湖南怀化学院物理与信息工程系湖南怀化418008 

出 版 物：《现代电子技术》 (Modern Electronics Technique)

年 卷 期：2011年第34卷第18期

页      码：158-160,164页

摘      要：为满足高校实验室对数字集成芯片的测试需求,利用LabVIEW软件和单片机技术,设计实现了集成电路测试分析仪。与常见的集成电路测试仪相比,系统的特色在于依托LabVIEW强大的数据分析和图形显示功能,不仅能完成常规74系列芯片的功能测试,还提供了任意输入数据编辑和波形显示功能,有利于初学者准确掌握和深入理解芯片的逻辑功能。设计中利用SN754410设计了管脚上电电路,使用USB/串口转换电路实现上位机与控制器间通信。实验表明,系统功能测试正确,运行稳定,波形图显示直观便捷,为芯片测试和数字逻辑验证提供了有力工具。

主 题 词：集成电路测试 LabVIEW SN754410 USB/串口转换电路 

学科分类：08[工学] 0802[工学-机械学] 0835[0835] 080201[080201] 

D　O　I：10.16652/j.issn.1004-373x.2011.18.032

馆 藏 号：203142098...