边界扫描环境下的板级互连测试及其BIST实现

作     者：钟波 孟晓风 季宏 陈晓梅 ZHONG Bo;MENG Xiaofeng;JI Hong;CHEN Xiaomei

作者机构：北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院北京100083 中国计量科学研究院力声所北京100013 

出 版 物：《应用基础与工程科学学报》 (Journal of Basic Science and Engineering)

年 卷 期：2009年第17卷第4期

页      码：628-635页

摘      要：互连测试对于电路板的生产和维护具有重要意义.针对现有互连故障检测BIST(built in self test)实现方法存在测试时间长、硬件开销大等问题,本文提出了一种改进的BIST结构,并阐述了其各组成部分,即查找表(look-up table,LUT)、测试向量生成器(test pattern generator,TPG)、输出响应分析器(outputresponse analyzer,ORA)的设计过程.该实现方法可在保证高故障检测率的前提下,降低硬件开销,缩短测试时间,同时还可避免多驱动器冲突,使测试能够安全进行.

主 题 词：边界扫描 互连测试 故障检测 内建自测试 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

核心收录：

D　O　I：10.3969./j.issn.1005-0930.2009.04.017

馆 藏 号：203142493...