抗闩锁效应微处理器复位电路设计研究

作     者：侯立功 陈天娥 HOU Li-gong;CHEN Tian-e

作者机构：无锡职业技术学院江苏省传感网工程技术研究开发中心江苏无锡214121 

基　　金：江苏省产学研联合创新资金-前瞻性联合研究项目(BY2014024) 

出 版 物：《测控技术》 (Measurement & Control Technology)

年 卷 期：2015年第34卷第12期

页      码：142-145页

摘      要：主要探究解决控制系统在频繁通断电情况下容易死机的问题。通过对传统微处理器复位电路的理论分析和工作波形仿真,发现在电源掉电时,微处理器在其复位引脚受到外部复位电容的放电冲击时,容易进入闩锁状态。由此提出上电复位电路也是容易导致CMOS电路进入闩锁的外部触发条件之一,并在此基础上设计了一种新型抗闩锁复位电路,能够自动检测电源掉电,导通泄流回路,使复位电容避开复位引脚放电。仿真分析和样机测试验证了其抗闩锁功能的有效性。

主 题 词：CMOS 闩锁效应 微处理器 电路应用级 复位 泄流 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1000-8829.2015.12.037

馆 藏 号：203142784...