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延时影响下智能软开关控制器硬件在环测试准确性分析

延时影响下智能软开关控制器硬件在环测试准确性分析

作     者:方仍存 雷何 杨东俊 孙建军 黄萌 FANG Rengcun;LEI He;YANG Dongjun;SUN Jianjun;HUANG Meng

作者机构:国网湖北省电力有限公司经济技术研究院武汉430077 武汉大学电气与自动化学院武汉430072 

基  金:国网湖北省电力有限公司科学技术项目资助(52153820000H) 

出 版 物:《电测与仪表》 (Electrical Measurement & Instrumentation)

年 卷 期:2024年第61卷第10期

页      码:153-160页

摘      要:智能软开关作为一种实现配电网灵活调节作用的电力电子设备,通常采用控制器硬件在环技术以实现多样化的功能验证需求。控制器硬件在环中存在不可忽略的接口延时环节,影响暂态稳定性测试的功角动态准确性,造成试验结果与真实系统响应不一致。设计了智能软开关控制器硬件在环测试系统,建立了测试系统的时域数学模型,解析延时环节对测试准确性影响。基于暂态稳定等面积方法量化延时影响程度,综合考虑测试系统的准确性和规模,探究了延时环节参数的优化选择和设计。最后,基于RT-LAB实时仿真器的控制器硬件在环测试系统验证了理论分析的正确性。

主 题 词:控制器硬件在环测试 智能软开关 延时 准确性 

学科分类:080802[080802] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 

D O I:10.19753/j.issn1001-1390.2024.10.020

馆 藏 号:203143944...

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