电子产品长期加电工作条件下的加速寿命试验技术研究

作     者：蔡健平 向刚 徐洪武 王伟 伍招冲 Cai Jianping;Xiang Gang;Xu Hongwu;Wang Wei;Wu Zhaochong

作者机构：中国航天标准化研究所北京100071 北京航天自动控制研究所北京100071 

出 版 物：《质量与可靠性》 (Quality and Reliability)

年 卷 期：2024年第3期

页      码：19-22,29页

摘      要：为满足当前条件下电子产品长期加电工作寿命指标验证需求,研究了基于系统可靠性模型的长期加电加速寿命试验验证技术。基于电子产品中元器件的失效率,形成加速因子算法和设计试验验证方案的思路。利用该方法,针对某组合线路板设计了验证试验剖面,并实施了试验验证,评估了其长期加电工作寿命。

主 题 词：长期加电工作寿命 试验验证技术 加速因子 

学科分类：080901[080901] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

馆 藏 号：203144082...