FPGA和高集成度EPLD向门阵列挑战(下)——集成度更高的新一代反熔丝FPGA和可擦式CPLD达到系统级的集成水平

作     者：陈森锦 陈晓冬 

出 版 物：《电子产品世界》 (Electronic Engineering & Product World)

年 卷 期：1995年第2卷第10期

页      码：30-34页

摘      要：上文讲述高集成度现场可编程门阵列(FPGA)和复杂PLD(CPLD)的许多新结构,厂家提供的基于RAM的FPGA已达到10万个门的集成度,与门阵列相当.电可擦的、紫外线可擦的和一次性可编程的反熔丝FPGA也有类似的新发明.它们使设计师在设计系统时有了更多的解决办法;这些系统需要可编程器件带来的灵活性,但其需要量又不值得使用掩模编程的门阵列.虽然迄今为止的大部分开发工作都放在数字逻辑上,但混合信号系统的设计师也开始注意可编程技术的好处.International Microelectronic Products公司推出的第一个可编程模拟阵列使模拟系统设计师可以在系统中重新进行编程。

主 题 词：可编程逻辑器件 FPGA EPLD 门阵列 

学科分类：080902[080902] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

馆 藏 号：203145426...