成对测试中的一种用例生成算法

作     者：向渝 张骏 汪文勇 XIANG Yu;ZHANG Jun;WANG Wen-yong

作者机构：电子科技大学信息中心成都610054 

出 版 物：《电子科技大学学报》 (Journal of University of Electronic Science and Technology of China)

年 卷 期：2005年第34卷第6期

页      码：821-824页

摘      要：在对嵌入式软件进行黑盒测试研究的基础上,提出了一种基于成对测试设计思想的测试用例生成算法。该方法充分考虑到待测软件所有外部接口参数的可能取值和各种可能取值的组合。实验结果证明,该算法在不影响测试精度的情况下能有效提高测试用例的选择效果。

主 题 词：软件测试 测试用例 成对测试 用例生成算法 

学科分类：08[工学] 0835[0835] 081202[081202] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1001-0548.2005.06.025

馆 藏 号：203145439...