基于X射线衍射仪的X光晶体参数标定

作     者：李军 韦敏习 杨国洪 侯立飞 易涛 刘慎业 LI Jun;WEI Min-xi;YANG Guo-hong;HOU Li-fei;YI Tao;LIU Shen-ye

作者机构：中国工程物理研究院激光聚变研究中心绵阳621900 

出 版 物：《核电子学与探测技术》 (Nuclear Electronics & Detection Technology)

年 卷 期：2013年第33卷第3期

页      码：316-320页

摘      要：基于实验室X射线衍射仪,利用其运行稳定性和高精度角度控制能力,通过设计、制作晶体样品架,对X光平面晶体的本征参数晶格常数和积分衍射效率进行了实验标定,并给出其不确定度。该方法快速、高效、方便、灵活,实现了X光晶体的实验室标定,为ICF物理实验线谱诊断设备晶体谱仪的定量化测量提供了数据支撑。

主 题 词：X射线衍射仪 X光晶体 本征参数 标定方法 

学科分类：082704[082704] 0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 0804[工学-材料学] 0827[工学-食品科学与工程类] 082701[082701] 0703[理学-化学类] 1009[医学-法医学类] 0702[理学-物理学类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.0258-0934.2013.03.012

馆 藏 号：203145739...