集成电路检验设备

作     者：柴振荣 

出 版 物：《管理观察》 (Management Observer)

年 卷 期：1995年第9期

页      码：38-38页

摘      要：介绍一种集成电路自动化检验设备（ATTDF－T）．它可以保证对小表面制品的庇病高检出率。可以用实时制改变检验程序。ATTDFT系统可用于各种结构布局集成电路的设计过程中。在检验过程中，能够检查集成电路的不同部分及其操作时间参数。ATTDry使用一种专门软件，这种软件可根据所需结构的检验进行调定。ATT公司拟改进该系统，并使Z标准化，以期能够检验更多种类的产品。

主 题 词：集成电路 自动化检验 时间参数 标准化 结构布局 检验过程 检验程序 面制品 检验设备 检出率 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

馆 藏 号：203146910...