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核级仪表可靠性、安全性评审技术的探讨

核级仪表可靠性、安全性评审技术的探讨

作     者:张培山 邹岳华 朱闰炎 吴云浩 秦永烈 

作者机构:上海理工大学上海200093 

出 版 物:《自动化仪表》 (Process Automation Instrumentation)

年 卷 期:1999年第20卷第4期

页      码:37-40页

摘      要:核级仪表可靠性评审技术是保证产品先天性优良的重要方法之一.它可以防患于未然,对产品从方案设计、制造过程、检验装配、例行试验和特殊的环境试验、可靠性试验、寿期模拟试验等各个阶段可靠性、安全性的保证措施是否有力进行全面评审.文中扼要提出了对评审方法的建议及见解.

主 题 词:核级仪表 可靠性 安全性 评审技术 

学科分类:082704[082704] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 0827[工学-食品科学与工程类] 081102[081102] 0811[工学-水利类] 

D O I:10.3969/j.issn.1000-0380.1999.04.014

馆 藏 号:203147151...

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