机载计算机BIT虚警及解决策略研究

作     者：田心宇 张小林 吴海涛 姚英 Tian Xinyu;Zhang Xiaolin;Wu Haitao;Yao Ying

作者机构：西北工业大学365所陕西西安710072 中国科学院西安授时中心陕西西安710600 西安邮电学院电信系陕西西安710121 

基　　金：国家自然科学基金(60134010)资助 

出 版 物：《西北工业大学学报》 (Journal of Northwestern Polytechnical University)

年 卷 期：2011年第29卷第3期

页      码：400-404页

摘      要：机内测试(Built-in Test,BIT)技术是改善系统或设备测试性和维修性的重要途径,通过在机载计算机中设计专门的BIT电路,配合专门的BIT软件,以达到大幅度提高机载计算机的可靠性和安全性的目的。但是较高的虚警率一直是阻碍BIT技术在机载计算机中广泛应用的一个重要原因。文章在对机载计算机BIT虚警机理模式进行分析的基础上,提出一种新型的机载计算机BIT虚警问题的分析方法,并给出BIT设计策略及关键技术解决方案。经过实例分析证明该策略明显降低了虚警率,提高了机载计算机的可靠性及可维护性。

主 题 词：BIT 机载计算机 可靠性 可维护性 

学科分类：080904[080904] 0810[工学-土木类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080402[080402] 0804[工学-材料学] 081001[081001] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1000-2758.2011.03.015

馆 藏 号：203149198...